d13

Day 13：图像分类 + 图像分割

对应原：

原 Day 25 + Day 26

学习内容：

ResNet
EfficientNet
Transfer Learning
Data Augmentation
U-Net
mask
IoU
Dice

应用：

wafer map 缺陷分类
表面缺陷区域分割
晶圆局部异常定位

产出：

Wafer Defect Classifier v1