Day 8：时间序列基础 + 统计异常检测
对应原：
原 Day 15 + Day 16
学习内容：
时间戳
采样频率
滑动窗口
趋势
突变
漂移
Z-score
IQR
3-sigma
Control Chart
EWMA
半导体应用：
温度曲线异常
压力曲线异常
同 recipe PL 漂移
同设备 pressure_std 漂移
产出：
MBE run 单变量异常检测 notebook
对应原：
原 Day 15 + Day 16
学习内容：
时间戳
采样频率
滑动窗口
趋势
突变
漂移
Z-score
IQR
3-sigma
Control Chart
EWMA
半导体应用：
温度曲线异常
压力曲线异常
同 recipe PL 漂移
同设备 pressure_std 漂移
产出：
MBE run 单变量异常检测 notebook